Angle V3.0 实验室无源效率刻度软件

      AngleV3.0 是一款应用于实验室高纯锗γ 谱仪的无源效率刻度软件。

      其原理是基于对每套实验室谱仪，以点源/ 体源/ 面源/ 马林杯样品源之中的任一系列标准源的完整效率曲线为基准，结合绝对算法（Monte Carlo）与相对算法，由无数实验室修正，以“效率转换”方法推演其他形式样品的效率刻度曲线。软件具有完整的记忆存档功能，当某一个条件发生变化时，用户可以调取以前的刻度文件，改变相应变化的参数重新进行刻度。

       软件精度：测量误差除方法本身之外，还取决于刻度效率曲线所用点源本身的误差和各项参数的准确性，误差水平在3%~ 4% 左右。

       方法的可溯源性：如基准效率曲线所用的刻度源为可溯源，则此方法下获得的测量结果亦可溯源。具体探测器或系统在出厂时工厂提供点源效率刻度曲线。

DSPEC 系列数字化谱仪

特 点

● 使用计算机进行控制和参数设置；

● 数据通过率高：＞ 100kcps；

● 多种数据处理与能谱稳定功能；

● 可预置多种核素的MDA，在所有MDA 自动终止计数；

● 背板配置统一接口，强调兼容性；

GammaVision γ 能谱分析软件

集硬件控制、谱获取与分析、报告与质量保证功能于一体。具有多路谱图同步获取功能-MDI（Multiple Detector Interface）。与Windows、Windows XP 等软件良好兼容。包含四种分析引擎：

● WAN32：GammaVision 原始分析引擎，采用库引导的寻峰，用于一般应用及分析研究型谱数据。

● GAM32：Mariscotti 法寻峰，并对核素库进行“预过滤”，以减少环境样品测量的正向偏差。

● NPP-32：用于裂变产物复杂谱图的分析。

● ENV32： 用于环境水平样品的分析，Mariscotti 法寻峰，同时产生活度与MDA 报告。

传统高纯锗（HPGe）探测器

● GEM 系列：P 型同轴高纯锗探测器

标准形制“宽能”高纯锗探测器

性能指标上综合了传统GEM 与GMX 探测器的优势。能量下限降至3keV、分辨率优异。中低能段效率显著提升GEM-S 和GEM-C 系列采用超薄可靠接触极，GEM-SP 系列采用点接触极。在常温下保存不会损害探测器性能严格保证效率、分辨率、峰型与峰康比等完整指标。

标准形制同轴探测器

所应用（测量）中不关注低能射线。ORTEC 提供基于传统GEM 工艺、但以晶体尺寸定义型号的探测器。

GEM-F 系列：短同轴探测器（适合滤纸/ 滤膜等扁平样品）