MDS 是第三代多路低本底系统，用于要求样品高处理速率的和高灵敏度的总α /β 计数应用。可由4 个探测器扩展至64 个探测器，均可连接到同一台电脑上。每个测量通道的样品装载和控制完全是独立的，故障通道不会影响周围的探测器。维护简单，可快速进行拆卸。
● 独立可拆卸的探测器；
● 完全模块化的电子学线路；
● 可扩展至最多64 个探测器。
● 本底：α：可保证≤ 0.05CPM；β：可保证≤ 0.5 CPM；
● 探测效率：α：42%（210Po），42%（241Am），42%（230Th）；β：55%（90Sr），21%（137Cs），43%（99Tc ）；
● 串扰：α 进入β 道，β 进入α 道， ＜ 1α 计数每100000β 计数；
● 坪区：α ＜ 1.5% 斜率/100V，β ＜ 2.5% 斜率/100V；
● 探测器不均匀度：＞ ±90% 超过灵敏区域；
● 计数率：同时测试每道，500000cpm 没有死时间损失。
● 电源：117Vac，<1.7 A，50/60 Hz；230Vac，<0.9 A，50/60 Hz；